리가쿠, 3D 플래시 메모리 결함 검출 및 측정 기법으로 다이애너 니쏘넨 메모리얼 최우수 연구 논문 수상

▪️ 리가쿠 홀딩스의 그룹사인 리가쿠가 3D 플래시 메모리의 결함을 발견하는 혁신적인 비파괴 방법으로 다이애나 니쏘넨 메모리얼 최우수 논문상을 수상했다.
▪️ 이번 기술은 초고해상도 엑스레이 현미경을 사용하여 나노 단위 미세 구조를 관찰할 수 있게 한다.
▪️ 앞으로 리가쿠는 이 기술을 추가적인 혁신을 위해 다양한 분야에 적용할 계획이다.

출처: https://www.newswire.co.kr/newsRead.php?no=1007324