어플라이드 머티어리얼즈, 신형 전자빔 시스템 ‘SEMVision H20’ 출시… 나노미터 규모 결함의 빠르고 정밀한 분석 제공

▪️ 어플라이드 머티어리얼즈가 새로운 결함 리뷰 시스템 ‘SEMVision H20’을 발표했다.
▪️ 이 시스템은 전자빔 기술과 AI 이미지 인식을 결합하여 나노미터 크기의 결함을 빠르고 정확하게 분석할 수 있도록 설계되었다.
▪️ 어플라이드는 이를 통해 반도체 제조 기업의 공정 제어 능력을 향상시키고 제조 속도를 높일 수 있도록 지원할 계획이다.

출처: https://www.newswire.co.kr/newsRead.php?no=1006137